基本信息
| 标准名称： | 半导体点温计检定规程 |
| 英文名称： | Semiconductor Themistor Themometer |
| 中标分类： | 综合 >> 计量 >> 热学计量 |
| 发布部门： | 国家计量局 |
| 发布日期： | 1984-12-07 |
| 实施日期： | 1985-12-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 提出单位： | 上海市标准计量局 |
| 归口单位： | 上海市标准计量局 |
| 起草单位： | 广东省计量科学研究所 |
| 起草人： | 沈正宇 |
| 出版社： | 中国计量出版社 |
| 出版日期： | 1985-12-01 |
| 页数： | 12页 |
| 书号： | 155026-1269 |
适用范围
本规程适用于新制的、使用中的及修理后的测温范围从-80℃至+300℃的指针式半导体点温计的检定。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 综合 计量 热学计量